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Surtronic DUO分體式粗糙度測量儀 Surtronic DUO粗糙度儀是英國泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測Ra，Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進行測量。

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Surtronic S-100全新升級款泰勒粗糙度儀 新型Surtronic S-100系列儀器能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案，包括多樣化的系統(tǒng)和應用相關配件，并且能夠針對特殊應用的配件定制工裝。

Surtronic DUO高精度粗糙度儀 每個組件表面都會有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預測組件在使用過程中的行為，有必要使用表面紋理參數(shù)對表面特征進行量化。

英國Taylor孔內(nèi)壁粗糙度測量儀器 英國泰勒霍普森 Taylor Hobson出產(chǎn)的粗糙度儀，不僅可測量物體平面的粗糙度，還可測量深孔內(nèi)部的粗糙度。測量數(shù)據(jù)準確且操作便捷，友好的操作界面更是客戶們的心儀產(chǎn)品。