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篤摯儀器(上海)有限公司
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QNix 4500便攜式膜厚儀

QNix 4500便攜式膜厚儀

更新時間:2024-09-25
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QNix 4500便攜式膜厚儀。高精度的設(shè)備,堅固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護,它的壽命會很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護性 和便于挪動的盒子中。

QNix 4500便攜式膜厚儀的詳細資料:

QNix 4500便攜式膜厚儀

 

    篤摯儀器: 我們經(jīng)營各類物理測量儀器,是世界的正規(guī)代理商和供應(yīng)商,產(chǎn)品種類齊全,包括各種測量儀器及相關(guān)的各種配件,我們的產(chǎn)品覆蓋zui常見的測量任務(wù)。 對于非標準測量,可以使用多種系統(tǒng)附件,以便對整個測量任務(wù)進行系統(tǒng)定制。詢價,我們有專業(yè)的技術(shù)人員和多年的從業(yè)經(jīng)驗,可以提供根據(jù)您的具體要求為您提供量身定制的測量方案。

    測厚儀采用的電子技術(shù),能滿足各種不同的測量要求。高精度的設(shè)備,堅固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護,它的壽命會很長。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護性 和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴 露在強烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時, 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時,請不要自行修理,我們的維修部門 隨時竭誠為您服務(wù)。 產(chǎn)品從購買之日起保修一年,紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修。

  

QNix 4500便攜式膜厚儀

    可以測量磁性基體(Fe模式);可以測量非磁性基體(NFe模式);測量范圍:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um;顯示精度:0.1um;精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)  1000-3000um≤±3%讀數(shù);zui小接觸面:10×10mm;zui小曲率半徑:凸面:3mm;凹面:25mm;zui小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm;溫度補償范圍:0-60℃;顯示:LCD液晶(帶背光);探頭:紅寶石固定式;電源:2×1.5V干電池;尺寸:100×60×27mm;重量:110g

    通過與工藝,行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶密切合作,已經(jīng)創(chuàng)建了一個模塊化涂層厚度計,將各種經(jīng)過驗證的QNix量規(guī)的許多特性結(jié)合在一個設(shè)備中。模塊化測量系統(tǒng)是一種特別小巧便利的涂層厚度計,可直接插入微型探頭。為了靈活使用,微型探頭也可以連接到延長電纜。模塊化測量系統(tǒng)提供高達5000μm的移動性,高測量精度,易于處理和不同尋常的應(yīng)用。 是一種特別小巧便利的測量儀,用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進行非破壞性測量??梢酝ㄟ^直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長電纜上使用。

 

QNix 4500便攜式膜厚儀

儀器使用:

1.開機: 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實,儀器將 自動開機。(使用時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實,禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動探頭,以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起,離開被測物 10cm 以上,再進行下次測量。)
2.設(shè)置: 開機后按紅色按鍵進入菜單,QNix®4500 為 4 個選項,QNix®4500 為 2 個選 項,見下圖:
選擇基體 選擇基體 Fe NFe Fe/NFe 取平均值 QNix®4500 QNix®4200
“Fe”為磁性金屬基體模式, “NFe”為非磁性金屬基體模式(僅 QNix®4500), “Fe/NFe”為自動識別基體模式(僅 QNix®4500), “取平均值”為儀器自動顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測量)。
按紅鍵進入菜單后,繼續(xù)按紅鍵進行選擇,將光標在選項上停留 2 秒后,進 入所選項目。如在“Fe”選項上停留 2 秒后,儀器顯示如下:
Fe 測量模式
這時儀器進入 Fe(磁性金屬基體)模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe(非 磁性金屬基體)、Fe/NFe(磁性非磁性基體自動識別)模式下工作。
進入“取平均值”選項后,儀器顯示如下
取平均值 關(guān) 開
在“開”選項上停留 2 秒后,取平均值開啟,測量時顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀
數(shù)的平均值(包括本次測量),測量時在屏幕右上角出現(xiàn)“
— X ”符號時表示取平
均值開啟,如不需要請關(guān)閉(在取平均值選項里選擇“關(guān)”)即可。

3.測量: (1)調(diào)零: 儀器在測量前,應(yīng)在基體上取零位作基準。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零,因為材料之間導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同,會造成一定誤差。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后,將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上, 不要抬起,按一下儀器上的紅鍵松開,儀器依次顯示“零位參照、放置探頭”、 “零位參照,拿起探頭”或聽到儀器響聲后,拿起儀器,出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響 聲后,液晶顯示 0,調(diào)零完畢。
注意:由于工件表面粗糙度等原因,調(diào)零后,再測時不一定是的零位, 這是正?,F(xiàn)象。
(2)測量 將儀器探頭垂直接觸被測物的表面,儀器將自動測出并顯示數(shù)據(jù)。(建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用,分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用)

4.分體型說明: QNix®4200P、QNix®4200P5、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線分體型設(shè) 計,測量方便、穩(wěn)定、準確,探頭連接線堅固耐用,還可滿足一些狹小空間的測 量。探頭線和探頭可更換。

 


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