1 開 / 關(guān)儀器
說明：儀器沒有專門的開關(guān)。
打開儀器
- 當(dāng)儀器放在工件上時自動開啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上，顯示屏?xí)@示“Er6”，然后顯示四個水平短線而不顯示任何讀數(shù)。
- 另一種開機方法是按 [OK]鍵。
請注意!
不要通過手指壓迫傳感器來開啟儀器！這樣可能會導(dǎo)致錯誤的測量結(jié)果。
關(guān)閉儀器 / 自動關(guān)閉
一分鐘不使用，儀器會自動關(guān)閉。 （關(guān)閉 = 儀器沒有任何顯示）。
2 測量涂鍍層厚度
- 儀器開啟后，把儀器放在要測量工件上，等待儀器發(fā)出測量聲響。這種方式可以自動開啟儀器。
- 把儀器提離工件。
測量聲響后顯示讀數(shù)。說明：若太早提起儀器(未有聲響前)，錯誤信息 “Er6”會出現(xiàn)。重復(fù)步驟
3. 當(dāng)儀器已在開啟狀態(tài)時， 讀數(shù)會馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。
3 顯示儀器內(nèi)儲存的測量數(shù)據(jù)
儀器zui多可以儲存999個測量數(shù)據(jù)。
- 用 [5]鍵或 [6]鍵可翻看測量數(shù)據(jù)。
- 翻過*個或者zui后一個測量數(shù)據(jù)后，屏幕將顯示 “- - - - “并維持1秒鐘左右。
任何時候您都可以繼續(xù)測量。
4 刪除所有測量數(shù)據(jù)
- 按 [5] 或 [6]鍵。
- 按 [CAL]鍵。
“del” 即刪除將顯示 2 秒鐘。 - 在“del”顯示的時候按[OK]鍵。
儀器內(nèi)所有測量數(shù)據(jù)將被刪除。
當(dāng) “del”不顯示的時候按 [OK]鍵將無任何反應(yīng)。
5 歸一化
歸一化用來對測量儀器進行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材，而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件*。
說明：歸一化會刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。
歸一化儀器 (前提: 儀器處于開啟狀態(tài))
- 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”).
- 在底材上測量五次左右
每次測量后，會顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 - 按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17”，忽略它。
完成歸一化程序。
6 校準
校準需要有下面幾項東西：底材（形狀和底材物料要與待測部件*）和一片標準片(儀器隨機的75 µm左右標準片)。 說明：校準將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。
校準儀器（前提：儀器必須打開）
- 按 [CAL]鍵。
顯示 "Base" (即 “未鍍過的底材”) - 在底材上測量五次左右.
每次測量后，會顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 - 按 [OK]鍵.
顯示 0.00 和 STD1 (即校準標準片 # 1). - 把校準標準片放在底材上，并測量5次左右。
每次測量后，屏幕上會顯示當(dāng)前讀數(shù)。 - 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個數(shù)值至標準片的標稱值， 如“75 µm”。 標準片的標稱值注明在標準片上。
- 按 [OK]鍵。
完成校準程序. 儀器返回測量狀態(tài).
7 刪除校準資料 / 恢復(fù)初始曲線
有時，如果經(jīng)過校準后，儀器測量仍然不準確，則可以刪除校準參數(shù)。如果先前的校準程序沒有正確進行的話，就可能會發(fā)生這種情況。
在這種情況下，可以把特征曲線恢復(fù)到原始的出廠設(shè)定。
刪除儀器的校準參數(shù) （前提：儀器必須打開）
- 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
- 在底材上測量5次左右.
- 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準標準片 # 1) .
- 在底材上測量1次.
屏幕將顯示0左右的讀數(shù). - 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
屏幕將顯示 “0.00 STD1” . - 按 [OK] 鍵?；謴?fù)到初始的特征曲線。
恢復(fù)完成。 儀器現(xiàn)在可以測量了。
8 服務(wù)菜單
進入服務(wù)菜單及設(shè)定方法：
- 按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157”。
- 用[5]鍵設(shè)定到“159”。
- 按[OK]。屏幕顯示 FREE。
- 用[5] [6]鍵選擇服務(wù)菜單編號 (只可選 # 5 到 #10)
- 重復(fù)按[OK]選擇菜單內(nèi)容， 利用 [5]或 [6] 進行設(shè)定。
- zui后按[OK]離開服務(wù)程序。
服務(wù)菜單# 5
內(nèi)容 | 解釋 |
連續(xù)測量模式 | 連續(xù)測量模式下： 注意： 測量結(jié)束后，請務(wù)必關(guān)閉連續(xù)測量模式！否則電池將耗盡 (連續(xù)測量模式下自動關(guān)機功能失效！) |
(服務(wù)菜單# 1 到 4 這款型號沒有)
服務(wù)菜單# 6
內(nèi)容 | 解釋 |
顯示符號 | 按兩次 [OK]鍵將顯示全部符號。注：但不是所有符號MP0這款儀器都用到。 |
服務(wù)菜單# 7
內(nèi)容 | 解釋 |
軟件版本 | 顯示儀器軟件版本 |
服務(wù)菜單# 8
內(nèi)容 | 解釋 |
測試菜單 | 僅供維修使用! |
服務(wù)菜單# 9
內(nèi)容 | 解釋 |
恢復(fù)到出廠設(shè)置 | 所有服務(wù)菜單的設(shè)置都將恢復(fù)到出廠設(shè)置。 |
服務(wù)菜單# 10
內(nèi)容 | 解釋 |
主校準 | UCAL (僅供維修使用!) |
9 故障查找
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er1 | 內(nèi)部錯誤。 | 進行歸零步驟。 如錯誤重復(fù)出現(xiàn)，聯(lián)絡(luò)Fischer維修部。 |
Er4 | 內(nèi)存測量數(shù)據(jù)儲存滿。 | 刪除內(nèi)存測量數(shù)據(jù)。 |
Er5 | 無法確定底材值。
| 用合適的標準片校正。 校正標準片至少要有實際工件涂鍍層的1/2厚(在涂層上校正時)。
|
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er6
| 超出測量范圍，不能顯示讀數(shù)。 原因: 涂鍍層太厚。 原因: 不正確測量。 原因: 歸零或校正方法有誤。 | 涂鍍層厚度在儀器測量范圍內(nèi)。 正確測量 (例如: 在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器)。 |
Er7 | 歸零或校正時，非正常值被認可了。 - 不正確測量標準片。
- 要求測量底材時卻測量了標準片。 - 測量有折痕的標準片。 - 測量時，儀器沒有平放在工件或標準片上。 | 刪除內(nèi)存數(shù)據(jù)，重新測量。 重新正確歸零或校正 (例如:在測量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊；在測量后不要太快提起儀器)。
在同一工件上測量多次取其平均值歸零。 更換標準片。 正確測量，將儀器平放在工件或標準片上。 |
Er12 | 校正時測量標準片順序錯誤。 | 按正確的順序重新校正。 |
Er13 | 主校準時，標準片的間隔不在允許范圍內(nèi)。
使用了錯誤的標準片。
誤操作，在標準片上而不是在底材上歸零。 | 通知客戶服務(wù)部門。
使用正確的標準片。
在底材上歸零。 |
Er14 | 儀器內(nèi)部錯誤: 無法計算主校準參數(shù)。原始主校準參數(shù)被保留。 | 重做主校正。 |
Er15 | 無法儲存主校準參數(shù)。 | 客戶服務(wù)部門。 |
Er17 | 讀數(shù)不夠， 因此無法結(jié)束一個組 。 | 再測幾個數(shù)據(jù)，直到*組可以結(jié)束，然后產(chǎn)生一個新的統(tǒng)計值。 |
Er22 | 儀器內(nèi)部錯誤: 錯誤訪問內(nèi)存或EEPROM。
| 客戶服務(wù)部門。
|
Er28 | 儀器內(nèi)部錯誤: 無法計算測量數(shù)據(jù)。 | 客戶服務(wù)部門。 |
10 技術(shù)資料
儀器型號 | DUALSCOPE® MP0 |
訂貨號 | 604-162 |
可測量的涂鍍層系統(tǒng) | NF, Iso/Fe 磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和非導(dǎo)電涂層的厚度(磁感應(yīng)方法) 和 Iso/NF 非磁性金屬 基材上非導(dǎo)電涂層的厚度
|
測量范圍 | NF,Iso/Fe 0 - 2000 µm (0 - 78 mils) Iso/NF 0 - 2000 µm (0 - 78 mils) |
測量誤差 | For applications NF, Iso/Fe 0 ... 75 µm (0 - 3 mils) ± 1.0 µm 75 ... 1000 µm (3 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 µm (39 - 78 mils) £ 3 % For applications Iso/NF 0 ... 50 µm (0 - 2 mils) ± 1 µm 50 ... 1000 µm (2 - 39 mils) ± 2 % 1000 ... 2000 µm (39 - 78 mils) £ 3 %
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重復(fù)精度 | For applications NF, Iso/Fe 0 ... 50 µm (0 - 2 mils) £ 0.25 µm 50 … 2000 µm (2 - 78 mils) £ 0.5 % For applications Iso/NF 0 ... 100 µm (0 - 4 mils) £ 0.5 µm 100 … 2000 µm (4 - 78 mils) £ 0.5 % |
重量 | 85 g (2.73 oz) (不含電池); 135 g (4.34 oz) (含電池) |
尺寸 | W x D x H: 64 mm x 30 mm x 85 mm (2.5” x 1.2” x 3.4”) |
電源 | 2 x battery LR6.AA 1.5 V |
功耗 | Max. 0.2 Watt |
環(huán)境溫度 | 操作溫度5° ... 40°C (41° – 104°F) ; 儲存溫度: 5°... 60°C (41° – 140°F) |
相對濕度 | 30 ... 90 % (無凝水) |
測量數(shù)據(jù)內(nèi)存 | zui多999個測量讀數(shù) |
zui小測量間隔 | 2 秒 |
11 儀器及附件的訂貨資料
項目 訂貨號 DUALSCOPEÒ MP0 604-162 電池 MP0R 2x LR6.AA 1.5 V 603-534 掛帶 MP0R 603-481 探頭保護罩MP0R 603-582 塑料校準標準片 75 µm MP0R 603-479 Al-基材 MP0R 603-478 Fe-基材 MP0R 603-477 |
