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菲希爾Couloscope CMS2 STEP庫侖法測厚儀 這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系。

多鍍層如銅鍍鎳鍍錫測厚儀Fischer CMS2 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu);它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）。

德國菲希爾電解測厚儀 根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層提供了準(zhǔn)確的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm內(nèi)， 很多材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的。

Couloscope CMS2電解法鍍層測厚儀 在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時的厚度和電極電位的測定變成了一個越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個鎳層?reg;間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護(hù)。

Couloscope CMS2 STEP庫侖儀電解液 COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量 Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀 4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。 Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀