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避免降低涂層測(cè)厚儀測(cè)量過程誤差產(chǎn)生需注重的地方
點(diǎn)擊次數(shù)：1028 更新時(shí)間：2021-07-14 打印本頁面 返回
涂層測(cè)厚儀如何使用才可避免降低誤差
在運(yùn)用涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)盡量運(yùn)用被測(cè)材質(zhì)來作為調(diào)零的基體，以防止因?yàn)椴煌牟馁|(zhì)而致使導(dǎo)磁性不同，而呈現(xiàn)測(cè)量誤差。等到在被測(cè)材質(zhì)的同一部位調(diào)零以后，再實(shí)行一樣部位的測(cè)量，如在側(cè)臉工件邊緣及中間部分時(shí)當(dāng)分別調(diào)零。在應(yīng)用涂層測(cè)厚儀實(shí)行測(cè)量時(shí)還該當(dāng)注意探頭和被測(cè)料面維持垂直，以免發(fā)生大的誤差。若是測(cè)量的同一個(gè)點(diǎn)，可將探頭每次都離開10公分以上，間隔幾秒后再實(shí)行測(cè)量，以免被測(cè)材質(zhì)探頭磁化而影響測(cè)量結(jié)果。
涂層測(cè)厚儀作為調(diào)零用的外表面須要盡量維持光滑，假如外表面不光滑，該當(dāng)視狀況取平均值，由于外表面粗糙度對(duì)測(cè)量的數(shù)值影響較大。構(gòu)造不同應(yīng)分別實(shí)行調(diào)零測(cè)量，平面調(diào)零側(cè)臉平面，測(cè)量凹面調(diào)零后測(cè)量，測(cè)量凸面調(diào)零后實(shí)行測(cè)量，防止因?yàn)闃?gòu)造不同而在測(cè)量上發(fā)生誤差。
