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   測(cè)厚儀通過(guò)對(duì)薄膜材料的波浪邊、塌邊幅度進(jìn)行測(cè)量，以幫助用戶(hù)了解薄膜來(lái)料張力是否一致，滿(mǎn)足涂布或使用要求。測(cè)厚儀采用激光測(cè)量位移差的方式，測(cè)量薄膜在一定張力下的表面平整度，并根據(jù)設(shè)定規(guī)則自動(dòng)識(shí)別壞品，張力測(cè)量模塊由一個(gè)激光位移傳感器、驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)組成。

   測(cè)厚儀通過(guò)可調(diào)張力張緊薄膜被測(cè)物 后，驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)位移傳感器橫向來(lái)回掃描，得到膜片橫向的高度差，根據(jù)轉(zhuǎn)換關(guān)系轉(zhuǎn)換成張力均勻性差異。測(cè)厚儀采用的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量，可以對(duì)生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行厚度測(cè)量，監(jiān)測(cè)它們?cè)谑褂眠^(guò)程中受腐蝕后的減薄程度，也可以對(duì)各種板材和各種加工零件作測(cè)量。

   測(cè)厚儀可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域，對(duì)厚度的測(cè)量，是由探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過(guò)耦合劑到達(dá)被測(cè)體，一部分超聲信號(hào)被物體底面反射，探頭接收由被測(cè)體底面反射的回波，地計(jì)算超聲波的往返時(shí)間，并按下式計(jì)算厚度值，再將計(jì)算結(jié)果顯示出來(lái)。測(cè)厚儀適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度；可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭使用。

   測(cè)厚儀具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能，可對(duì)系統(tǒng)誤差進(jìn)行自動(dòng)修正；已知厚度可以反測(cè)聲速，以提高測(cè)量精度；具有耦合狀態(tài)提示功能； 標(biāo)準(zhǔn)速率每秒鐘4次，快速率：每秒20次，自動(dòng)識(shí)別主機(jī)說(shuō)明書(shū)上探頭類(lèi)型列表中的探頭；測(cè)厚儀調(diào)整內(nèi)部參數(shù)，并修正V聲程錯(cuò)誤；補(bǔ)償探頭溫度和零位偏移；顯示保持/空白模式，顯示測(cè)量讀數(shù)后，屏幕上保持讀數(shù)或顯示空白。