聯(lián)系人:王存帆
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Couloscope CMS2 STEP 電解測(cè)厚儀簡(jiǎn)介的詳細(xì)資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
Couloscope CMS2 STEP 電解測(cè)厚儀
1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 (庫侖測(cè)量系統(tǒng))使用庫侖方法測(cè)量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測(cè)量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測(cè)試方法的場(chǎng)合。
2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測(cè)厚儀 準(zhǔn)確地測(cè)量范圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
3、用來測(cè)定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對(duì)多層鎳的測(cè)量變得越來越重要了,雙層鎳的測(cè)量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。
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