渦流法IsoScope FMP30測(cè)厚儀的詳細(xì)資料：

渦流法IsoScope FMP30測(cè)厚儀

渦流法IsoScope FMP30測(cè)厚儀：配探頭能夠?qū)崟r(shí)測(cè)量您想要的非鐵金屬基材涂層厚度：FTA3.3H，訂貨號(hào)：604-142，測(cè)量范圍：0 - 1200 μm，測(cè)量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～8000μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5% 。

特性：

Fischer菲希爾IsoScope FMP30測(cè)厚儀可查看修改已儲(chǔ)存的測(cè)量值，
應(yīng)用程式連接模式：可共享校準(zhǔn)信息，
通過(guò)MP-Name軟件可以為應(yīng)用程式更名，
Fischer菲希爾IsoScope FMP30測(cè)厚儀擁有可連接打印機(jī)的USB接口，

Fischer菲希爾IsoScope FMP30測(cè)厚儀能夠根據(jù)電渦流法/磁感應(yīng)法無(wú)損檢測(cè)涂鍍層厚度。
Fischer菲希爾IsoScope FMP30測(cè)厚儀可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)識(shí)別探頭和基材。
高質(zhì)量的外殼及大尺寸擁有高對(duì)比度圖形顯示器。
Fischer菲希爾IsoScope FMP30測(cè)厚儀擁有簡(jiǎn)易的儀器操作模式，配置多種統(tǒng)計(jì)評(píng)估方法。
USB 接口可以連接計(jì)算機(jī)，F(xiàn)MP30-40 還可以連接打印機(jī)，可打印檢測(cè)報(bào)告。
創(chuàng)新的探頭技術(shù)使得測(cè)量更，測(cè)量范圍更廣，幫助您完成測(cè)量，得到準(zhǔn)確的結(jié)果。

應(yīng)用：

Fischer菲希爾IsoScope FMP30測(cè)厚儀采用依據(jù)DIN EN ISO 2360, ASTM B244電渦流標(biāo)準(zhǔn)法，適用于測(cè)量：
非導(dǎo)電涂層在非鐵金屬基材上的非導(dǎo)電涂層，例如：臘克、油漆和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上鋁的陽(yáng)極氧化層（非鐵基材）
IsoScope FMP30膜厚儀延伸版本： 
ISOSCOPE FMP30-H: 使用于環(huán)境比較嘈雜的場(chǎng)所。擁有一個(gè)耳機(jī)頭戴讓使用者能聽(tīng)清測(cè)量數(shù)據(jù)，記錄下聲音和信號(hào)。

功能

• 自動(dòng)識(shí)別基材

• 外部觸發(fā)測(cè)量（例如：測(cè)量直徑很小的空心圓柱體的內(nèi)壁）

• 使用未知材料的鍍層進(jìn)行校準(zhǔn)（僅限于磁感應(yīng)法）

• 擁有USB接口，可以連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)

• 供電模式：電池供電和交流電源(可選件)

應(yīng)用程式存儲(chǔ)

• 可以?xún)?chǔ)存100個(gè)應(yīng)用程式，包括校準(zhǔn)信息。

• 可以?xún)?chǔ)存 20000個(gè)讀數(shù)

• 可以?xún)?chǔ)存 4000個(gè)數(shù)據(jù)組

• 數(shù)據(jù)組涵蓋時(shí)間和日期信息

• 糾正已儲(chǔ)存的讀數(shù)

• 應(yīng)用程式關(guān)聯(lián)功能：不同應(yīng)用程式能使用相同的校準(zhǔn)信息

• 可以編輯應(yīng)用程式名稱(chēng)

Helmut Fischer集團(tuán)是一家受德國(guó)和瑞士基金會(huì)控股、專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)和銷(xiāo)售涂鍍層測(cè)厚儀、材料分析儀、微硬度測(cè)試儀和材料測(cè)試儀的性集團(tuán)公司。集團(tuán)總部位于德國(guó)和瑞士，在德國(guó)、美國(guó)和英國(guó)各建有一個(gè)工廠(chǎng)、并設(shè)立了一個(gè)研究院和一個(gè)用戶(hù)應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，在*設(shè)有近50個(gè)分公司。

公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國(guó)辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會(huì)共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)試和材料測(cè)試領(lǐng)域可以為您提供比較良好的解決方案。

Helmut Fischer主要產(chǎn)品：Helmut Fischer測(cè)試樣片、Helmut Fischer涂層測(cè)厚儀、Helmut Fischer X射線(xiàn)熒光測(cè)量?jī)x、Helmut Fischer微硬度測(cè)試儀、Helmut Fischer鐵素體儀、Helmut Fischer氧化膜密閉性測(cè)試儀、Helmut Fischer電導(dǎo)率測(cè)試儀等。