聯(lián)系人:王存帆
地址:上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
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FischerScope MMS測(cè)厚儀(集成功能型)Fischer代理的詳細(xì)資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾 |
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FischerScope MMS測(cè)厚儀(集成功能型)Fischer代理
FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀是一臺(tái)小巧和極其多用的的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng),有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)處理能力。使用戶可以自己配置不同的測(cè)試模塊。FISCHERSCOPE MMS PC2與Windows™CE操作系統(tǒng)的模塊化測(cè)量系統(tǒng)是高精度涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試的理想解決方案。 通過(guò)LAN和USB連接的網(wǎng)絡(luò)功能可以快速集成到質(zhì)量管理體系和自動(dòng)化制造流程中。有六種基本的模塊:
FISCHERSCOPE MMS PEMASCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS NICKELSCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS SIGMASCOPE涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS DUPLEX涂層測(cè)厚儀
FISCHERSCOPE MMS PC涂層測(cè)厚儀
BFISCHERSCOPE MMS BETASCOPE 涂層測(cè)厚儀
模塊化設(shè)計(jì)可以在以后升級(jí)儀器到可用更多的方法進(jìn)行測(cè)量。 FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用場(chǎng)合由于采用了多種測(cè)量方法,MMS 可用于電鍍廠,線路板生產(chǎn)廠,汽車和航空生產(chǎn)廠的多種應(yīng)用場(chǎng)合。
應(yīng)用:
鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽(yáng)極氧化涂層(PERMASCOPE®)
納米涂層(防指紋),太陽(yáng)能電池涂層(薄膜層,CdTe /玻璃),插頭觸點(diǎn)上的金涂層,焊盤上的焊料,痕量分析,光敏涂層,油和蠟層(BETASCOPE®)
測(cè)量電路板表面和通孔上的銅涂層(SIGMASCOPE®)
層壓板或多層的銅厚度,不受電路板制造中的銅涂層(SR-SCOPE®)的任何影響
電路板制造中銅阻焊層厚度(PERMASCOPE®)
汽車行業(yè)的活塞表面上的石墨涂層或制動(dòng)盤上的防腐涂層(PERMASCOPE®)
汽車行業(yè)的活塞表面(NICKELSCOPE®)上的黑色涂料
奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量(PERMASCOPE®)
銅,鋁,鈦等非磁性金屬的導(dǎo)電性(SIGMASCOPE®)
適于測(cè)量:
鐵或鋼上的油漆,塑料,鋅,鉻等。
磁感應(yīng)法測(cè)量銅,黃銅,鋁等材料上的油漆,塑料,陶瓷涂層。
使用遵循DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)的渦流法。
有多種適合不同形狀的試樣和測(cè)量范圍的探頭可供選擇。
MMS SIGMASCOPE 采用渦流法,特別適用于下列場(chǎng)合:測(cè)量線路板上銅孔的厚度和包覆銅的厚度。
測(cè)量非鐵金屬的電導(dǎo)率。
ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)整體方案:
FISCHERSCOPE® XUL® 穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測(cè)量 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XULM® X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于對(duì)小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測(cè)量 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XAN® 120 X 射線熒光測(cè)試儀,用于快速、非破壞性的對(duì)黃金和銀合金進(jìn)行分析 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XAN® 220 用于快速無(wú)損分析黃金和銀合金的 X 射線熒光測(cè)量設(shè)備 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XAN® 250 滿足無(wú)損材料分析和涂層厚度測(cè)量zui高要求的通用型X射線熒光測(cè)量設(shè)備 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XDL® X 射線熒光測(cè)量?jī)x,用于對(duì)功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)涂層厚度測(cè) | ||||||||
FISCHERSCOPE® XDLM® X射線熒光測(cè)試儀,用于對(duì)電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)量,也適用于小型結(jié)構(gòu) | ||||||||
FISCHERSCOPE® XDAL® X 射線熒光測(cè)量?jī)x帶有可編程的 X/Y臺(tái)和Z軸,用于自動(dòng)測(cè)量涂鍍層厚度和材料分析 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XDV®-SDD 滿足高要求的 X 射線熒光測(cè)試儀,帶有可編程的 X/Y 工作臺(tái)和 Z 軸,用于自動(dòng)測(cè)量極薄的涂層和進(jìn)行印痕分析 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XDV®-µ 帶有毛細(xì)管X 光透鏡的 X 射線熒光測(cè)量?jī)x,用于在小零件和結(jié)構(gòu)上自動(dòng)測(cè)量并分析涂層厚度及涂層成分 | ||||||||
FISCHERSCOPE® XUV® 773 X 射線熒光測(cè)試儀帶有真空室,通用型設(shè)備測(cè)量具有全面的測(cè)量能力 | ||||||||
FISCHERSCOPE® X-RAY-4000 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng),用于在光滑的和壓印的(包括帶有鑄模接觸面)帶鋼生產(chǎn)工藝中進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析 | ||||||||
FISCHERSCOPE® X-RAY-5000 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng),用于在生產(chǎn)工藝中對(duì)較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析 | ||||||||
校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件 | ||||||||
WinFTM® 軟件® 適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件 | ||||||||
備件 X-RAY 產(chǎn)品備件 |
位于上海浦東新區(qū)的篤摯儀器有限公司是菲希爾的的中國(guó)區(qū)授權(quán)經(jīng)銷商,多年來(lái)一直從事測(cè)試儀器儀表設(shè)備的開(kāi)發(fā),代理、工作。篤摯儀器供應(yīng)菲希爾Ficher便攜式測(cè)厚儀的產(chǎn)品信息,技術(shù)參數(shù)和用途,我們的產(chǎn)品均屬原裝真品,證書齊全,售后完善,價(jià)格具有性的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì),篤摯儀器一直致力于給您的價(jià)格,服務(wù),讓您安心無(wú)憂。
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