Helmut FISCHER便攜庫倫測厚儀COULOSCOPE CMS2的詳細資料：

Helmut FISCHER便攜庫倫測厚儀COULOSCOPE CMS2

吸引人的設計，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
操作簡單，菜單指引的操作提示。
電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
大約100個預先定義好的應用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。

背景：

用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學電位差。在電鍍工業(yè)中，對多層鎳的測量變得越來越重要了，雙層鎳的測量已成為一種標準的操作。

COULOSCOPE CMS基本配置：
儀器：            Couloscope CMS
測量臺：          V24、V26、V18 等
電解液：          F1 ～ F22
COULOSCOPE CMS特征：
標準：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504

模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg 
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm

COULOSCOPE CMS2簡單介紹：
COULOSCOPE CMS2（庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進行或不需要進行非破壞性測試方法的場合。
COULOSCOPE CMS地測量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設備可以存儲上百條預先定義好的鍍層/基材應用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。


COULOSCOPE CMS STEP：
儀器高的電壓分辨率可以測量頂層為微孔鎳或微裂紋鎳與下層光亮鎳之間的電位，以及光亮鎳和半光亮鎳之間的電位。（還可以是光亮鎳和半光亮鎳之間的高的硫化鎳）
 

應用領域：
同時測量雙層鎳或三層鎳鍍層的厚度和電化學電位?！?br />幾乎可以測量所有金屬或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層系統(tǒng)。

在工業(yè)和特殊領域內的具體應用范圍：
電鍍工業(yè)中的產品監(jiān)控；由于新穎電極簡便的操作，該儀器*地適用于電鍍車間繁雜的工作環(huán)境！　成品的入庫檢驗，例如汽車工業(yè)中鉻合金輪轂澆筑件（帶雙層鎳）。