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進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210

進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210

更新時間:2024-09-27
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進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀,用于對保護和裝飾涂料,量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量

FISCHERSCOPE進口菲希爾X射線鍍層分析儀XDL 210的詳細資料:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
應用領域電子,交通,冶金,航天,汽車

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介:

        FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似,它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。

        XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀,用于對保護和裝飾涂料,量產(chǎn)的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器,即使大測量距離也可以測量(DCM,范圍0-80mm)。配備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應用;跟XUL類似??蛇x用自動測量的可編程工作臺.

篤摯儀器(上海)有限公司是從事測試儀器儀表設備的代理、銷售和服務的專業(yè)性公司。與國內(nèi)外著名儀表生產(chǎn)廠商有著廣泛的技術(shù)與銷售合作的良好基礎,秉承誠信、進取、團結(jié)、創(chuàng)新的企業(yè)精神,廣泛服務于國內(nèi)科研、教育、工業(yè)、醫(yī)療和政府機構(gòu)。

熒光鍍層分析儀XDL 210特征:

  • 帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。Z高工作條件:50KV,50W
  • X射線探測器采用比例接收器
  • 準直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
  • 基本濾片:固定或3個自動切換
  • 測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
  • 固定樣品支撐臺 ,手動XY工作臺
  • 攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置??潭染€經(jīng)過校準,顯示實際測量點大小。
  • 設計獲得許可,防護全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應用領域:

  • 大批量電鍍件測量
  • 防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
  • 電鍍行業(yè)槽液分析
  • 線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
  • 測量接插件和觸點的鍍層
  • 電子和半導體行業(yè)的功能性鍍層測量
  • 黃金,珠寶和手表行業(yè)

 

菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。XDL210:平面樣品平臺,固定的Z 軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計,可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作,測量數(shù)據(jù)的計算,以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。


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