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X-RAY XDL210熒光測厚儀

X-RAY XDL210熒光測厚儀

更新時間:2024-09-27
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X-RAY XDL210熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

X-RAY XDL210熒光測厚儀的詳細資料:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進口應用領域電子,交通,冶金,航天,汽車

X-RAY XDL210熒光測厚儀

X-RAY XDL210熒光測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

 典型的應用領域有:
• 測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
• 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/p>

 

通用規(guī)格

設計用途

能量色散X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。

元素范圍

從元素(17) 到 鈾(92)配有可選的WinFTM®BASIC軟件時,多可同時測定 24 種元素

設計理念

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

由上往下

X 射線源

X 射線管

帶鈹窗口的鎢管

高壓三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

孔徑(準直器)

Ø 0.3 mm 可選:Ø 0.1 mmØ 0.2 mm;長方形 0.3 mm x 0.05 mm

測量點尺寸

取決于測量距離及使用的準直器大小,

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

小的測量點大小約 Ø 0.2mm

X 射線探測

X 射線接收器

測量距離

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用保護的 DCM 測量距離補償法

樣品定位

視頻系統(tǒng)

高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

手動聚焦,對被測位置進行監(jiān)控

十字線(帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸)

可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點用于定位樣品

放大倍數(shù)

40x – 160x

電氣參數(shù)

電源要求

220 V ,50 Hz

功率

120 W (不包括計算機)

保護等級

IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸

××[mm]570×760×650

內(nèi)部測量室尺寸

××[mm]460×495x(參考“樣品大高度部分的說明)

重量

94 kg

 


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