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fischer膜厚儀辦事處現(xiàn)貨fischer膜厚儀辦事處現(xiàn)貨 只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號(hào)元素氯到92號(hào)元素鐳的所有元素都能準(zhǔn)確測(cè)定.可測(cè)量： 單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
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Fischer測(cè)厚儀IsoScope DMP10代理現(xiàn)貨Fischer測(cè)厚儀IsoScope DMP10代理現(xiàn)貨 氧化膜測(cè)厚儀它能快速、無損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。ISOSCOPE FMP10氧化膜測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。ISOSCOPE FMP10氧化膜測(cè)厚儀特別適用于工程現(xiàn)場(chǎng)高精度的測(cè)量
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Fischer測(cè)厚儀全國(guó)現(xiàn)貨Fischer測(cè)厚儀全國(guó)現(xiàn)貨* HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)試和材料測(cè)試領(lǐng)域可以為您提供良好的解決方案。公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國(guó)辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會(huì)共同擁有。
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菲希爾IsoScope FMP10測(cè)厚儀菲希爾IsoScope FMP10測(cè)厚儀 IsoScope FMP10涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
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Fischer IsoScope FMP10測(cè)厚儀代理Fischer IsoScope FMP10測(cè)厚儀代理 IsoScope FMP10涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）
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