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  • 非破壞性涂層測厚儀IsoScope FMP10
    非破壞性涂層測厚儀IsoScope FMP10

    非破壞性涂層測厚儀IsoScope FMP10 ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀它能快速、無損傷、精頦地進行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測量。ISOSCOPE FMP10氧化膜測厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域

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  • 德國IsoScope FMP10漆面測厚儀上海直銷
    德國IsoScope FMP10漆面測厚儀上海直銷

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  • DualScope MP0Fischer德國測厚儀膜厚測量儀
    Fischer德國測厚儀膜厚測量儀

    Fischer德國測厚儀膜厚測量儀 DUALSCOPE® MP0涂鍍層測厚儀基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結(jié)合(磁感應(yīng)/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準),此通用型設(shè)備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量

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  • 德國ANOTEST YMP30-S致密性鋁氧化測厚儀
    德國ANOTEST YMP30-S致密性鋁氧化測厚儀

    德國ANOTEST YMP30-S致密性鋁氧化測厚儀 德國菲希爾Fischer ANOTEST® YMP30-S 是用來測試鋁上陽極氧化膜致密性的儀器。它按照標準來測量導(dǎo)納值。由于其精巧的設(shè)計而便于在現(xiàn)場使用。測量范圍為 3 – 200 S,測量槽直徑為 13 mm,通過可選的精準電子參考物質(zhì)校準儀器。

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  • 德國SR-SCOPE RMP30-S銅箔測厚儀上海直銷
    德國SR-SCOPE RMP30-S銅箔測厚儀上海直銷

    德國SR-SCOPE RMP30-S銅箔測厚儀上海直銷 該便攜式設(shè)備采用 4 點電阻法,十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢是利用電阻法測量不會受到其他層的影響,因此能夠準確測定上層面銅層的厚度。

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